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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - Adam Foster,Werner A. Hofer - cover

LIBRO INGLESE

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Name: Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Price: 185.43 EUR
Availability: InStock
Author: Adam Foster
ISBN: 0387400907

di Adam Foster (Autore)

Werner A. Hofer (Autore)

Springer-Verlag New York Inc., 2006

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Descrizione

Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Written in the style of a textbook, it explains from scratch the theory behind today's simulation techniques and gives examples of theoretical concepts through state-of-the-art simulations, including the means to compare these results with experimental data. The book provides the first comprehensive framework for electron transport theory with its various degrees of approximations used in today's research, thus allowing extensive insight into the physics of scanning probes. Experimentalists will appreciate how the instrument's operation is changed by materials properties; theorists will understand how simulations can be directly compared to experimental data.

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Dettagli

Autore:

Adam Foster, Werner A. Hofer

Editore:

Springer-Verlag New York Inc.

Collana:

NanoScience and Technology

Anno:

2006

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

282 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

Peso:

1310 gr.

EAN:

9780387400907

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