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Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - Bert Voigtlander - cover

LIBRO INGLESE

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

Name: Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
Price: 213.50 EUR
Availability: InStock
Author: Bert Voigtlander
ISBN: 3662452391

di Bert Voigtlander (Autore)

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2015

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Descrizione

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.

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Dettagli

Autore:

Bert Voigtlander

Editore:

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Collana:

NanoScience and Technology

Anno:

2015

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

382 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

Peso:

7214 gr.

EAN:

9783662452394

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