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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis - Zhong Lin Wang - cover

LIBRO INGLESE

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Name: Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Price: 79.20 EUR
Availability: InStock
Author: Zhong Lin Wang
ISBN: 0521017955

di Zhong Lin Wang (Autore)

Cambridge University Press, 2005

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Descrizione

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for the first time. The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy loss spectra in different scattering geometries. This and many other features make the book an important and timely addition to the materials science literature.

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Dettagli

Autore:

Zhong Lin Wang

Editore:

Cambridge University Press

Anno:

2005

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

460 p.

Testo in English

Dimensioni:

244 x 170 mm

Peso:

731 gr.

EAN:

9780521017954

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